.png){kind=icon}
返回
A reference material for X-ray diffraction line profile analysis
.png){kind=icon}
OA
AI
DOI：10.1107/S1600576725006946.png)
.png){kind=icon}
.png){kind=icon}
分享.png){kind=icon}
收藏
摘要
En 中文
一种纳米晶Fe-1.8%Cr钢粉被用作参考材料，在五种以上的粉末衍射仪器和配置上进行了测试，并采用了不同的数据分析方法。该材料商业上可低廉获取，通过高能行星磨研磨获得了均一的晶粒尺寸为10 (2) nm，尺寸分散度为5 (1) nm，名义位错密度约为2.90 (2) x 10(16) m(-2)。该粉末稳定、易于操作，适用于任何测量几何构型的样品制备。它非常适合用于测试衍射峰形建模，无论是单独测试还是整个衍射图谱测试，如Rietveld方法。本文报道了该材料的简单制备细节以及使用实验室和同步辐射光束线仪器、不同能量X射线收集的衍射图谱分析。具体展示了基于积分宽度的数据筛选（Williamson-Hall方法）、全粉末图谱建模分析以及Rietveld方法分析。此外，还讨论了与漫散射和配对分布函数分析相关的内容。
Keyword:
reference materials
steel
X-ray diffraction
whole powder pattern modelling
pair distribution functions
line profile analysis
Williamson-Hall method
Rietveld method
diffuse scattering
AI总结
对已上传原文的论文进行重点信息的提取，主要内容包括：简要概述、研究摘要、背景介绍、关键亮点、图文解析、展望与总结。
期刊
IF:
2.8
论文数:
297
被引数:
3.1W
机构
引用论文
.png){kind=icon}
The effect of dislocation contrast on x-ray line broadening: A new approach to line profile analysis
PREAI
分享收藏VESTA 3for three-dimensional visualization of crystal, volumetric and morphology data vesta 3 用于晶体，体积和形态数据的三维可视化
PREAI
分享收藏
查看更多内容