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A simple mechanical cleaning method for colloidal probes
DOI:10.1088/1361-6501/ae5325.png)
摘要
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胶体探针(CPs)被用于通过原子力显微镜研究广泛的各种纳米和微尺度现象,包括表面力、水动力滑移、生物分子性质与相互作用,以及活细胞力学。先前建立的清洗方法通常不足以制备胶体探针的表面,特别是那些半径大于∼10 μm的探针。这里证明,通过使用尖锐Si探针的多行程接触模式方法,可以清除胶体玻璃微球表面20 × 20 μm2区域内几乎所有的碎屑。此外,还表明该清洗程序对于50至200 nN范围内的作用力可产生近原始表面。这项工作将可清洗面积扩大了∼100倍,相比之前的机械清洗方法。预计该方法在缓解使用胶体探针研究纳米和微尺度现象时经常出现的伪影方面将具有重要意义。
Keyword:
colloidal probes
atomic force microscopy
surface cleaning
nanoscale phenomena
mechanical cleaning
AI总结
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期刊
IF:
3.4
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