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An Efficient Capacitance Extraction Method for Multichip Power Modules for EMI Analysis
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DOI：10.1109/TPEL.2025.3605996.png)
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摘要
En 中文
提取多芯片功率模块（MCPMs）的寄生电容对于可靠的电磁干扰（EMI）分析至关重要，尤其是在汽车逆变器或转换器等开关系统中。此类应用越来越多地采用多桥MCPMs——其中多个半桥单元被集成，且每个桥驱动不同的电机或负载——这使得电容特性的表征更为关键。传统方法，如曲线跟踪器和瞬态拟合技术，存在单频测量、测量装置复杂以及需要在不同偏置条件下进行重复测试等局限性。这些缺点限制了它们在复杂模块级表征中的实用性。本文提出了一种基于二端口S参数测量的通用电容提取方法。该方法能够在各种电压偏置下实现静态和动态电容的建模，且终端连接的重新配置极少。采用商用IGBT基MCPM的实验验证表明，与常规测量相比，所提出的方法显著降低了装置复杂度。这些结果证实该方法对先进MCPMs的EMI分析和建模是有效的。
Keyword:
Capacitance modeling
electromagnetic interference (EMI)
multichip power module (MCPM)
parasitic capacitance extraction
two-port S-parameter measurement
期刊
IF:
6.5
论文数:
1.7W
被引数:
8.3W
机构
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