Automatic defect localization method based on BIM projected image

Xu Lei

doi:10.1016/j.aei.2025.103874

Automatic defect localization method based on BIM projected image

2025-09-17

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DOI：10.1016/j.aei.2025.103874

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建筑结构中存在缺陷普遍。及时检查和精确识别问题对于保证建筑质量至关重要。传统的缺陷检测方法依赖于检查后的手动记录或使用全球定位系统（GPS）和惯性测量单元（IMU）等传感器。这些流程效率低下、成本高昂，受设备条件限制，且无法识别特定建筑构件中的缺陷。为解决上述问题，本研究提出了一种新的缺陷定位框架，利用建筑信息模型（BIM）投影图像，通过单张图像实现单个构件的精确缺陷定位。该框架基于具有既定位置投影的建筑信息模型（BIM）投影图像库。通过有效检索和匹配现场采集的实时图像与图像库的特征，实时图像中背景场景的相机位置被精确估计。因此，基于此精确位置和图像中的缺陷2D信息，缺陷被精确映射到相应的BIM构件上。该技术实现了无需额外经济投入的自动化、高精度问题定位。实验结果表明，所提方法在相机位置估计方面表现优异。其在无缺陷照片验证中的精度极高，并将这一优势有效转移到真实图像验证中，显示出卓越的准确性和实用性。

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