Binary phase shifting profilometry

2026-10-01

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DOI：10.1016/j.optlastec.2026.116539

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摘要

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• 不同占空比下二值化条纹的相位计算模型被理论推导得出。 • 针对空间域二值化条纹提出了两种无模糊相位编码方案并进行了构建。 • 所提出的二值化相移轮廓术能够同时提高测量精度和速度。

Keyword:

Fringe projection profilometry

Phase-shifting profilometry

Binary coding

3D reconstruction