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Complementary Phase-Differencing Profilometry for Saturation-Induced Errors Suppression
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PRE
AI
DOI：10.1109/TIM.2025.3597673.png)
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摘要
En 中文
基于条纹投影轮廓术（FPP）的三维（3-D）测量在众多工业领域至关重要。然而，高反射工件常导致采集到的条纹图案饱和，致使测量失效。因此，实现便捷、高精度抑制饱和诱发的误差是一项必要要求。本文提出了一种互补相移差分轮廓术（CPDP）以达成此突破。通过利用相移正弦光栅与其对应互补光栅在直流（dc）分量上的对称性，所提出的CPDP能够修复变形条纹中的过饱和区域，并有效抑制饱和诱发的误差。此外，即便部分区域因过度曝光未能完全修复过饱和，通过对应互补修复的变形条纹间的相位平均，饱和诱发的误差仍可得到有效抑制。实验结果表明，所提出的CPDP能够以便捷、高精度的方式抑制饱和诱发的误差，并具有在工业高反射工件三维测量中的良好应用前景。
Keyword:
3-D measurement
fringe projection profilometry (FPP)
high-reflective workpiece
phase-differencing profilometry (PDP)
saturation-induced errors suppression
期刊
IF:
5.9
论文数:
2.0W
被引数:
5.8W
机构
引用论文
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