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Enabling Automatic Model Generation of RF Components
DOI:10.1109/MMM.2021.3096004.png)
摘要
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期刊
IF:
2.6
论文数:
3.2K
被引数:
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Thin-film SOI n-MOSFET low-frequency noise measurements at elevated temperatures高温下薄膜SOI n-MOSFET的低频噪声测量
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