返回
Enhancing DFT Security in Chiplet-Based Systems With Encryption and Integrity Checking
DOI:10.1109/JETCAS.2025.3592984.png)
摘要
En 中文
基于芯粒的芯片是传统2D片上系统(SoC)的自然演进。在未来,现成芯粒预计将成为半导体行业的重要组成部分。IEEE Std 1838(TM)-2019可测性设计(DFT)标准使来自多个供应商的堆叠芯粒的测试成为可能。然而,共享的DFT网络威胁着测试数据和其他敏感信息的机密性和完整性。本文解决了与基于芯粒系统的DFT基础设施相关的安全问题。我们讨论了保护DFT基础设施以防止未经授权访问和恶意活动的必要性。此外,我们提出了一种结合加密和编码的硬件对策,以保护DFT网络上的通信。结果表明,DFT可以在面积和测试时间开销最小的情况下,保护来自堆叠中恶意芯粒、基于扫描的攻击和暴力攻击的破坏行为。所提出的解决方案在由500多万个门组成的设计中,面积开销小于1%,对于典型的DFT实现,测试时间开销也小于1%。
Keyword:
2.5D
3DIC
chiplet
design for testability (DFT)
hardware security
IEEE 1838
IEEE 1687
IJTAG
root of trust
scan encryption
期刊
IF:
3.8
论文数:
1.4K
被引数:
2.8K
机构
引用论文
暂无论文信息

