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Exploring correlation in infrared spectroscopy
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AI
DOI：10.1016/j.vibspec.2025.103799.png)
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摘要
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采用理论及实验透射、折反射和衰减全反射（ATR）光谱，我们研究了对应吸光度光谱与真实吸光度（定义为吸收指数函数乘以波数）的关联程度，使用聚甲基丙烯酸甲酯层在CaF2、Si和金基底上。为提高关联性，通常将基底光谱从样品光谱中扣除。典型例子是CaF2上的层，该法足以建立强线性关联。然而，在许多情况下，基底光谱并非移除非期望物理贡献（如基底相关效应）的合适参考。例如，Si基底上的层，高反射率导致光谱受干涉条纹主导。替代未涂覆基底光谱，必须采用在MIR和可见光谱区域透明区间具有相同折射率的非吸收层基底光谱。对于ATR光谱，基于穿透深度波长依赖性的简单乘法校正显著提高皮尔逊系数，但未达光谱识别所需水平。为提高精度，可采用“穷人ATR校正”。对于折反射光谱，所有相对简单的方法通常失效，仅能最终确定光学常数函数的方法才有望成功。
