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Global emissivity correction algorithm based on ECPT full process response
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PRE
AI
DOI：10.1016/j.measurement.2025.119258.png)
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摘要
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• 一种基于ECPT的全局算法校正了由于表面粗糙度引起的发射率。
• 该校正算法将温度精度提高了93%以上。
• 校正后，缺陷深度以98%以上的精度线性量化。
期刊
IF:
5.6
论文数:
2.1W
被引数:
5.4W
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