.png){kind=icon}
返回
Good Locally Testable Codes
.png){kind=icon}
PRE
AI
DOI：10.4007/annals.2026.203.2.3.png)
.png){kind=icon}
原文求助.png){kind=icon}
分享.png){kind=icon}
收藏
摘要
En 中文
给出了具有恒定速率、恒定距离和恒定查询次数的局部可测试码的显式构造，从而肯定地回答了c3问题。
Keyword:
error correcting codes
local testability
locally testable codes
left right Cayley complex
期刊
IF:
5.3
论文数:
1.4K
被引数:
1.6W