Measuring Linear Array Mutual Coupling Terms and Element Positions From Embedded Element Patterns

Jacki Gilmore

doi:10.1109/tap.2026.3692659

2026-05-18

PRE

Jacki Gilmore

Michele Pugno

Annie Cuyt

DOI：10.1109/tap.2026.3692659

原文链接

原文求助

摘要

En 中文

本文提出了一种从嵌入单元方向图（EEPs）测量中推导线性天线阵列中相同天线单元位置和S参数的方法。该问题被表述为指数数据建模问题，并采用验证指数分析（VEXPA）来提取单元位置和S参数。单元位置计算结果表明，对于11单元阵列的合成示例，其组合绝对-相对误差（即绝对误差除以1+精确单元位置）小于0.1%；对于四单元实验示例，该误差小于0.2%。从合成示例中计算出的系数的组合绝对-相对误差为<0.002。采用矢量网络分析仪（VNA）直接测量的S参数与采用所提出方法确定的S参数之间有极佳的一致性。

Keyword:

Antenna array

antenna measurements

exponential analysis

mutual coupling

validated exponential analysis (VEXPA)

期刊

IEEE Transactions on Antennas and Propagation

IF:

5.8

论文数:

677

被引数:

6.8W

机构

university of stirling

学者数:

552

论文数: 332

被引数: 0

stellenbosch university

学者数:

1.4W

论文数: 1.2W

被引数: 17

引用论文

3-D FDTD design analysis of a 2.4-GHz polarization-diversity printed dipole antenna with integrated balun and polarization-switching circuit for WLAN and wireless communication applications

IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques

IF0

2003-02-01

PREAI

Huey-Ru Chuang; Liang-Chen Kuo

IF0

PREAI

LOFAR: The LOw-Frequency ARray LOFAR: 低频阵列

ASTRONOMY & ASTROPHYSICS

IF5.8

2013-07-16

1.7K

OAAI

van Haarlem, M. P.; Wise, M. W.; Gunst, A. W.; Heald, G.; McKean, J. P.; Hessels, J. W. T.; de Bruyn, A. G.; Nijboer, R.; Swinbank, J.; Fallows, R.; Brentjens, M.; Nelles, A.; Beck, R.; Falcke, H.; Fender, R.; Horandel, J.; Koopmans, L. V. E.; Mann, G.; Miley, G.; Rottgering, H.; Stappers, B. W.; Wijers, R. A. M. J.; Zaroubi, S.; van den Akker, M.; Alexov, A.; Anderson, J.; Anderson, K.; van Ardenne, A.; Arts, M.; Asgekar, A.; Avruch, I. M.; Batejat, F.; Bahren, L.; Bell, M. E.; Bell, M. R.; van Bemmel, I.; Bennema, P.; Bentum, M. J.; Bernardi, G.; Best, P.; Birzan, L.; Bonafede, A.; Boonstra, A. -J.; Braun, R.; Bregman, J.; Breitling, F.; van de Brink, R. H.; Broderick, J.; Broekema, P. C.; Brouw, W. N.; Brueggen, M.; Butcher, H. R.; van Cappellen, W.; Ciardi, B.; Coenen, T.; Conway, J.; Coolen, A.; Corstanje, A.; Damstra, S.; Davies, O.; Deller, A. T.; Dettmar, R. -J.; van Diepen, G.; Dijkstra, K.; Donker, P.; Doorduin, A.; Dromer, J.; Drost, M.; van Duin, A.; Eisloeffel, J.; van Enst, J.; Ferrari, C.; Frieswijk, W.; Gankema, H.; Garrett, M. A.; de Gasparin, F.; Gerbers, M.; de Geus, E.; Griessmeier, J. -M.; Grit, T.; Gruppen, P.; Hamaker, J. P.; Hassall, T.; Hoeft, M.; Holties, H. A.; Horneffer, A.; van der Horst, A.; van Houwelingen, A.; Huijgen, A.; Iacobelli, M.; Intema, H.; Jackson, N.; Jelic, V.; de Jong, A.; Kant, D.; Karastergiou, A.; Koers, A.; Kollen, H.; Kondratiev, V. I.; Kooistra, E.; Koopman, Y.; Koster, A.; Kuniyoshi, M.; Kramer, M.; Kuper, G.; Lambropoulos, P.; Law, C.; van Leeuwen, J.; Lemaitre, J.; Loose, M.; Maat, P.; Macario, G.; Markoff, S.; Masters, J.; McFadden, R. A.; McKay-Bukowski, D.; Meijering, H.; Meulman, H.; Mevius, M.; Millenaar, R.; Miller-Jones, J. C. A.; Mohan, R. N.; Mol, J. D.; Morawietz, J.; Morganti, R.; Mulcahy, D. D.; Mulder, E.; Munk, H.; Nieuwenhuis, L.; van Nieuwpoort, R.; Noordam, J. E.; Norden, M.; Noutsos, A.; Offringa, A. R.; Olofsson, H.; Omar, A.; Orru, E.; Overeem, R.; Paas, H.; Pandey-Pommier, M.; Pandey, V. N.; Pizzo, R.; Polatidis, A.; Rafferty, D.; Rawlings, S.; Reich, W.; de Reijer, J. -P.; Reitsma, J.; Renting, G. A.; Riemers, P.; Rol, E.; Romein, J. W.; Roosjen, J.; Ruiter, M.; Scaife, A.; van der Schaaf, K.; Scheers, B.; Schellart, P.; Schoenmakers, A.; Schoonderbeek, G.; Serylak, M.; Shulevski, A.; Sluman, J.; Smirnov, O.; Sobey, C.; Spreeuw, H.; Steinmetz, M.; Sterks, C. G. M.; Stiepel, H. -J.; Stuurwold, K.; Tagger, M.; Tang, Y.; Tasse, C.; Thomas, I.; Thoudam, S.; Toribio, M. C.; van der Tol, B.; Usov, O.; van Veelen, M.; van der Veen, A. -J.; ter Veen, S.; Verbiest, J. P. W.; Vermeulen, R.; Vermaas, N.; Vocks, C.; Vogt, C.; de Vos, M.; van der Wal, E.; van Weeren, R.; Weggemans, H.; Weltevrede, P.; White, S.; Wijnholds, S. J.; Wilhelmsson, T.; Wucknitz, O.; Yatawatta, S.; Zarka, P.; Zensus, A.; van Zwieten, J.

A relation between the active input impedance and the active element pattern of a phased array

IEEE Transactions on Antennas and Propagation

IF0

2003-09-01

PREAI

D.M. Pozar

VEXPA: Validated EXPonential Analysis through regular sub-sampling VEXPA: 通过定期子采样进行验证的指数分析

SIGNAL PROCESSING

IF3.6

2020-12-01

OAAI

Briani, Matteo; Cuyt, Annie; Knaepkens, Ferre; Lee, Wen-shin