.png){kind=icon}
返回
Mixed Element Microparticle Characterization by Electron Probe Microanalysis
.png){kind=icon}
PRE
AI
DOI：10.1093/mam/ozaf022.png)
.png){kind=icon}
原文求助.png){kind=icon}
分享.png){kind=icon}
收藏
摘要
En 中文
微粒子组分表征在核取证领域 traditionally 是通过金标准破坏性分析技术实现的，例如大型几何二次离子质谱法和裂变径迹热离子质谱法，但处理时间过长和样品完全消耗排除了后续通过其他方法分析的可能性。电子探针微分析长期以来已被广泛应用于材料科学和地质学等领域，用于快速、非破坏性的微米级组分测量和成像，因此可能需要重新评估其作为核取证界微粒子分析替代工具的可行性。本研究介绍了使用电子探针微分析对均质微粒子进行成像和定量表征，利用基于高精度四极杆-电感耦合等离子体质谱法分析的校准曲线。在萨凡纳河国家实验室合成的机会样品，即镍掺杂二氧化铈微粒子，被选为钚掺杂二氧化铀微粒子的类比物。对可变含量的镍掺杂物的正检测和准确定量（达到痕量水平，即每百万分之几十）表明该技术适用于其他混合元素体系（例如锕系元素）。通过电子探针微分析仪进行的单粒子定量表征可能因此为当前使用的技术提供高保真度、非破坏性的补充。
Keyword:
EPMA
impurity analysis
microanalysis
microparticles
nuclear forensics
trace elements
期刊
IF:
3
论文数:
2.5K
被引数:
6.2K
机构
引用论文
Production and Characterization of Plutonium Dioxide Particles as a Quality Control Material for Safeguards Purposes.png)
ANALYTICAL CHEMISTRY
ANALYTICAL CHEMISTRYIF6.7
PREAI
分享收藏
Isotope ratio analysis of individual sub-micrometer plutonium particles with inductively coupled plasma mass spectrometryTALANTA
TALANTAIF6.1
PREAI
分享收藏
查看更多内容