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Multi-model integrated line detection robust to environmental variations using Bayesian optimization

delete2026-09-02
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OA
AI
J
Jeong-Ho Kim
M
M Yung Hyun Kim
C
Chang-Ju Lee
E
Eun-Seong Ko
S
Seung-Hwan Jung
D
Do-Hyung Jeon
H
Hyung‐Jin Kim
D
Doo-Jin Choi
W
Won-Suk Kim *
DOI:10.1016/j.cie.2026.112343delete
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摘要

摘要

En 中文
随着工业自动化和基于视觉的检测技术日益普及,对跨多种制造过程的可靠线检测的需求持续增长。然而,实际工业环境涉及光照变化、金属表面反射和纹理多样性,导致单模型线检测器性能波动显著。此外,当数据采集受限时,仅依赖学习的方法可能无法提供足够的环境变化鲁棒性。本研究提出了一种多模型集成的线检测框架,运行多个在独立参数空间中工作的检测器,并使用加权RANSAC结合其互补输出。我们进一步采用以条件风险价值(CVaR)为目标的鲁棒性感知贝叶斯优化,自动推导出对环境变化鲁棒的参数配置。与传统的基于均值的优化不同,该方法直接针对最坏情况性能,据我们所知,这是CVaR基贝叶斯优化首次应用于计算机视觉任务。所提出的方法在从造船厂中期装配焊接环境收集的779张真实工业图像上得到验证,CVaR最高提升33.5%,并在单独的保留验证集上确认了泛化能力。
Keyword:
Line detection
Multi-model integration
Bayesian optimization
Risk-aware optimization
Weighted RANSAC
Industrial inspection

期刊

C
Computers & Industrial Engineering
IF:
6.5
论文数:
489
被引数:
0

机构

S
samsung heavy industries co., ltd.
学者数:
10
论文数: 5
被引数: 0
P
pusan national university
学者数:
2.1W
论文数: 1.9W
被引数: 20