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Optimal Test Strategy Generation Method Based on Nested Heuristic Functions for Complex Systems
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PRE
AI
DOI：10.1109/TIM.2026.3677995.png)
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摘要
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可测试性设计（DFT）是一种在产品设计阶段规划测试策略的方法，并确保在产品使用阶段具备故障诊断能力。由于设计阶段信息有限，当前主流方法通常依赖专家知识来构建系统的多信号流图（MSFG）模型。测试策略随后通过求解最优策略生成问题（OSGP）来制定。然而，随着系统规模和复杂性的持续增加，求解OSGP的难度已显著增大。特别是在大型复杂系统中，现有算法生成的策略测试成本可能很高，严重限制了系统的可维护性。为解决这些问题，本文提出了一种适用于各种启发式函数的嵌套方法。该方法通过构建多层启发式函数结构来增强OSGP的求解能力。首先，提出了启发式函数的嵌套机制。然后，证明了随着嵌套层数的增加，生成的解可以收敛至全局最优解。最后，推导了在给定最大误差约束下不同启发式函数所需的嵌套层数，并分析了算法复杂度。仿真和实验结果表明，对于大规模复杂系统，所提出的方法能在确保故障隔离率（FIR）的同时将测试成本降低11.5%–64.2%，显著提升了系统的可测试性。
Keyword:
Complex system
design for testability (DFT)
nested heuristic function
optimal strategy generation problem (OSGP)
test cost
期刊
IF:
5.9
论文数:
1.9W
被引数:
5.8W
机构
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