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Physically-informed Bayesian feature optimization for semi-supervised industrial anomaly detection

delete2026-03-19
delete0
PRE
AI
J
Jianshe Feng *
J
Jianyu Zhang
S
Size Yin
F
Fanyu Qi
J
Jiaqi Li
DOI:10.1088/1361-6501/ae4d69delete
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摘要

摘要

En 中文
在处理制造过程中频繁出现的批次异常问题时,本研究引入了一种新颖的半监督过程监控方法,该方法能够实现生产过程中的实时异常检测,而非事后检验。通过将基于物理信息的贝叶斯特征优化与半监督学习相结合,所提出的方法能够在异常样本稀缺的条件下捕捉批次缺陷。首先,提出了一种贝叶斯特征优化策略,用于从冗余工业信号中提取关键指标,有效弥合领域专业知识与数据驱动表示之间的差距。其次,为解决半监督学习中异常样本稀缺的挑战,建立了一个基于正常样本训练的分布外检测模型,并结合合规模型校准来确定稳健的决策阈值。所提出方法的优越性通过实际冲压和注塑成型数据集得到验证,消融研究证实了其对超参数变化的鲁棒性。结果表明,该方法在数据稀缺的工业场景中具有异常监控的潜力。
Keyword:
Bayesian feature optimization
semi-supervised learning
industrial anomaly detection
out-of-distribution detection
conformal calibration

期刊

Measurement Science and Technology 封面图
Measurement Science and Technology
IF:
3.4
论文数:
2.7K
被引数:
2.3W

机构

S
sun yat-sen university
学者数:
1.9W
论文数: 6.4K
被引数: 14
U
university of california santa barbara
学者数:
357
论文数: 208
被引数: 0
引用论文

引用论文

Data based segmentation and summarization for sensor data in semiconductor manufacturing
err2014-05-01
err14
PREAI
errPark, Eunjeong L.; Park, Jooseoung; Yang, Jiwon; Cho, Sungzoon; Lee, Young-Hak; Park, Hae-Sang
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