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Replacing Batch Normalization with Memory-Based Affine Transformation for Test-Time Adaptation

delete2025-10-31
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OA
AI
J
Jih Pin Yeh
J
Joe-Mei Feng *
H
Hwei-Jen Lin *
Y
Yoshimasa Tokuyama
DOI:10.3390/electronics14214251delete
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摘要

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批归一化(BN)已成为现代深度神经网络的基础组件。然而,其一个缺点是依赖于批统计量,这些统计量在推理阶段可能不可靠或不可用,尤其是在测试时域偏移的情况下。虽然无批统计量的仿射变换方法通过学习样本级的缩放和平移参数来缓解这一问题,但大多数方法将样本视为独立处理,忽略了流式或幕式测试时设置中的时序或序列相关性。我们提出了LSTM-Affine,这是一种基于记忆的归一化模块,用循环参数生成器替代BN。通过利用LSTM,该模块根据当前输入及其历史背景生成通道级的仿射参数,能够逐步适应演变中的特征分布。与传统的无批统计量设计不同,LSTM-Affine捕获连续样本间的依赖关系,在渐变分布偏移的场景中提高了稳定性和收敛性。在少样本学习和源无关域适应基准上的广泛实验表明,LSTM-Affine一致优于BN及先前的无批统计量基线,尤其是在适应数据稀缺或非平稳时表现更为突出。
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