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Robust error calibration for serial crystallography
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AI
DOI：10.1107/S2059798325002852.png)
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摘要
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单晶衍射技术是一种重要的技术，具有独特的解析酶促过渡态、最小化对敏感金属酶的辐射损伤以及从微米级晶体中进行从头结构测定的能力。该技术需要合并来自数千个晶体的数据，使得手动识别异常晶体变得不可行。cctbx.xfel.merge使用过滤方法来移除问题数据。然而，这一过程并不完美，数据处理必须对异常值具有鲁棒性。我们在反射强度不确定性确定步骤中增强了cctbx.xfel.merge的鲁棒性。这一步骤是鲁棒性的关键点，因为它是首次将数据集作为一个整体考虑的步骤，而非单个晶格。鲁棒性是通过重新表述误差校准程序以减少更严格的统计假设，并整合降低低质量晶格权重的能力来实现的。随后，我们将此方法应用于五个大分子XFEL数据集，并观察到每个数据集的改进。强度不确定性的适宜性通过内部一致性进行验证。这是通过理论上的CC1/2和I/sigma关系以及加权二阶矩来实现的，加权二阶矩使用Wilson先验将强度不确定性与其预期分布联系起来。这项工作提出了新的数学工具来分析强度统计，并通过通常被忽视的不确定性分析过程展示了其有效性。
Keyword:
uncertainty quantification
error calibration
serial crystallography
XFELs
期刊
IF:
3.8
论文数:
10
被引数:
2.0W
机构
引用论文
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