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Scanning Tunneling Microscope-Based Break-Junction Technique─A Tutorial
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AI
DOI：10.1021/acsphyschemau.6c00026.png)
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摘要
En 中文
过去二十年里，分子电子学在发现常规电子元件的纳米尺度类似物方面取得了显著进展，这主要得益于扫描隧道显微镜基断裂结（STM-BJ）技术的发展。STM-BJ技术能够精确且高度可重复地测量分子的电子传输特性，使其成为探索否则难以获取的物理化学和电化学现象的有力工具。在过去的20年中，该技术获得了广泛普及，实验也变得越来越多样化和复杂化。尽管文献丰富，但关于如何进行STM-BJ实验及数据解释的实用指南仍十分缺乏。本教程首先简要介绍STM-BJ测量的发展背景，随后详细阐述仪器设备、数据采集、统计分析、标准实验的变体以及一些故障排除方法。本教程旨在帮助希望开始或改进实验室STM-BJ研究的研究人员，以及正在学习该技术的博士研究生和博士后研究人员，同时也可供希望批判性评估日益增长的STM-BJ文献的读者参考。
Keyword:
Charge transport
Electrical conductivity
Electrodes
Gold
Molecules
single-molecule electronics
STM break-junction
molecular junctions
molecular conductance
charge transport
statistical analysis
conductance histograms
instrumentation
experimental methods
期刊
IF:
4.3
论文数:
344
被引数:
534
机构
引用论文
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分享收藏分享收藏分享收藏Not So Innocent After All: Interfacial Chemistry Determines Charge-Transport Efficiency in Single-Molecule Junctions毕竟不是那么无辜: 界面化学决定了单分子结中的电荷传输效率OAAI
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