Smectic order-driven total wall defect formation

doi:10.1016/j.surfin.2025.106294

Smectic order-driven total wall defect formation

2025-04-01

0

PRE

AI

L

Luka Mesarec

J

Jean de Dieu Niyonzima

DOI：10.1016/j.surfin.2025.106294

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我们实验和理论研究了层状液晶中的油纹结构，重点关注存在于层状扁平半圆柱体（SFHs）中的平面壁缺陷。该壁结构在取向序和平移序上都是奇异的，我们称之为总壁缺陷（TWD）。这里的“奇异”指的是向列相 directors 场和层状相场。在TWD的理论分析中，我们使用基于向列相张量序参数和层状相A（SmA）复序参数场的介观朗道-德热纳-金茨堡方法。层状层结构通过偏光显微镜和同步辐射设施中的X射线衍射测量实验确定。我们理论和数值证明，实验观察到的壁缺陷中心处SmA层状的突变是通过向列相序重构机制实现的。我们的实验表明，壁上方和下方的层状层间距几乎相同。理论分析表明，横向SFH边界条件决定了TWD的垂直位置。

Keyword:

Liquid crystals

Smectic oily streaks

Total wall defects

Orientational order

Translational order' Landau-de Gennes-Gins-

burg approach

Order reconstruction mechanism

Smectic order-driven total wall defect formation

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