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Structured guided diffusion models for industrial defect image generation

delete2025-10-13
delete0
PRE
AI
Y
Yulai Xie
X
Xiaoning Pi
Y
Yang Zhang
F
Fang Ren
DOI:10.1016/j.knosys.2025.114642delete
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摘要

摘要

En 中文
• 提出一种结构化-GDM框架用于可控缺陷生成。 • 设计一种结构化架构,用于对三个元素的独立控制。 • 开发一种多类别训练方案,用于“一网打尽”式缺陷生成。 • 展示在生成高质量缺陷样本方面具有卓越性能。 • 展示在生成高质量缺陷样本方面具有卓越性能。

期刊

K
Knowledge-Based Systems
IF:
7.6
论文数:
1.3W
被引数:
4.5W

机构

C
china telecom research institute
学者数:
93
论文数: 45
被引数: 0
H
hitachi china research laboratory
学者数:
4
论文数: 2
被引数: 0
U
university of science and technology beijing
学者数:
1.3W
论文数: 4.5K
被引数: 2
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