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摘要
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Tauc图是一种用于确定非晶和晶态半导体的带隙的常用方法，利用测量的吸收系数。传统的Tauc图方法仍然是估计各种材料带隙的广泛使用且有效的方法，从而表明它是在研究材料性质方面的一种通用工具。当适当处理实验误用（如不恰当的光谱范围选择）时，可实现±50 meV量级的精度。此外，改进的Tauc图方法，包括优化的数据预处理和拟合策略，能够进一步提高带隙确定的精度，并提取更多的参数。
Keyword:
Urbach tail
fundamental bandgap
strong absorption
