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The Sequential Signed-Rank Test Control Chart for Process Location
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AI
DOI：10.1002/qre.70082.png)
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摘要
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本文介绍了一种新颖的非参数控制图，用于基于序贯抽样监控过程位置。所提出的控制图采用标准化的序贯Wilcoxon符号秩统计量作为其控制统计量。通过广泛的模拟研究，推导出了数据驱动的控制图参数与其受控统计性能指标之间的近似关系。这些关系被证明是准确的，并有助于控制图在实际中的设计。所提出控制图的统计性能与现有文献中的竞争控制图进行了数值比较。结果表明，所提出的控制图在检测任意大小的中位数偏移方面显著优于所有基于符号秩统计量的竞争控制图。此外，它还优于用于位置监控的SPRT符号控制图，通常在检测所有大小的位置偏移时平均需要更少的观测次数。一个实际数据示例说明了所提出控制图的实际应用。
Keyword:
nonparametric control chart
process location
sequential sampling
signed-rank statistic
期刊
IF:
2.8
论文数:
209
被引数:
4.6K
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