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期刊

I
IEEE Design and Test
IF:
1.9
论文数:
27
被引数:
1.4K

机构

Q
qualcomm
学者数:
782
论文数: 646
被引数: 1
H
harvard university
学者数:
2.5K
论文数: 1.0K
被引数: 1
K
KU Leuven
学者数:
5.7W
论文数: 5.2W
被引数: 8.1W
U
University of Cyprus
学者数:
4.3K
论文数: 5.0K
被引数: 3
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