返回
Ultrafast Codes for Multiple Adjacent Error Correction and Double Error Detection
DOI:10.1109/ACCESS.2019.2947315.png)
摘要
En 中文
可靠的计算机系统采用错误控制码 (ecc) 来保护信息免受错误。例如,经常使用单纠错-双检错 (sec-ded) 码来保护存储器。传统上,ecc被设计为最小化冗余位的数量,因为它们被添加到整个存储器中的每个字。然而,使用ECC引入了编码和解码等待时间、硅面积使用和功耗。在其他计算机单元中,这些参数应该被优化,冗余将不那么重要。例如,由于技术缩放,保护寄存器免受错误仍然是深亚微米系统的主要关注点。在这种情况下,寄存器保护的重要要求是保持编码和解码延迟尽可能短。超快错误控制码实现非常低的延迟,与字长无关,从而增加了冗余。本文总结了超快码 (SEC和sec-ded) 的先前工作,并提出了结合双重错误检测和相邻错误校正的新代码。我们已经实现,合成和比较了不同的超快代码与其他最先进的快速代码。结果表明了该方法的有效性,实现了低延迟和硅面积和功耗的良好平衡。
Keyword:
Error correction codes
Decoding
Registers
Encoding
Delays
Redundancy
Error correction
Adjacent error correction
double error detection
error control codes
fast codes
reliability
AI总结
对已上传原文的论文进行重点信息的提取,主要内容包括:简要概述、研究摘要、背景介绍、关键亮点、图文解析、展望与总结。
期刊
IF:
3.6
论文数:
9.8W
被引数:
29.4W
机构
引用论文
Radiation-induced graft copolymerization of dimethylaminoethyl methacrylate onto graphene oxide for Cr(VI) removal辐射诱导甲基丙烯酸二甲基氨基乙酯在氧化石墨烯上的接枝共聚以去除Cr(VI)

