XAFS Applied to Trace Element Analysis

doi:10.7567/jjaps.32s2.237

XAFS Applied to Trace Element Analysis

1993-01-01

0

OA

AI

DOI：10.7567/jjaps.32s2.237

原文链接

查看原文

摘要

En 中文

X射线吸收边谱法的灵敏度已通过使用同步辐射作为光源，并采用为EXAFS开发的解析方法而得到提高。可获得定性和定量信息，且不受许多物理化学方法中存在的任何干扰。该方法除了样品池厚度外，不需要任何经验信息，并且是非破坏性的。Ag-Cd（在1000 ppm Ag中Cd含量为200至1 ppm）显示出优异的线性。镉的最低检测限为0.5 ppm，且对最大浓度无限制。本报告还强调了在分析EXAFS时仔细检查χ(k)数据的重要性。

XAFS Applied to Trace Element Analysis

摘要

AI总结

期刊

机构

引用论文