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YOLO-HDEW: An Efficient PCB Defect Detection Model
DOI:10.3390/electronics14173383.png)
摘要
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为解决印制电路板(PCBs)中小缺陷检测的挑战,提出了一种基于增强YOLOv8架构的YOLO-HDEW模型。在P2特征层引入高分辨率检测层以提高对小目标的敏感性。采用深度可分离卷积(DSConv)进行下采样,降低参数复杂度。集成了边缘增强的多尺度并行注意力机制(EMP-Attention)以捕获多尺度和边缘特征。将EMP机制融入C2f模块形成C2f-EMP模块,并采用动态非单调Wise-IoU(W-IoU)损失函数以增强边界框回归。该模型在PKU-Market-PCB、DeepPCB和NEU-DET数据集上进行评估,实验结果表明YOLO-HDEW达到98.1%的准确率、91.6%的召回率、90.3%的mAP@0.5以及61.7%的mAP@0.5:0.95,分别超越YOLOv8 1.5%、2.3%、1.2%和1.9%。此外,该模型在DeePCB和NEU-DET数据集上展现出良好的泛化性能。这些结果表明,YOLO-HDEW在显著提升检测精度的同时保持可管理的模型规模,为PCB缺陷检测提供了有效解决方案。
Keyword:
YOLO-HDEW
PCB defect detection
small target detection
EMP-Attention
W-IoU loss
期刊
IF:
2.6
论文数:
1.0W
被引数:
4.7W
机构
暂无机构信息
引用论文
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