arrow
Back
P

Patrick Huck

Lawrence Berkeley National Laboratory

42H-index
208Paper Count
6.4KCitation Count
Published Papers 12
Publication Date
Accelerated data-driven materials science with the Materials Project
err2025-07-03
err0
PREAI
errMatthew K. Horton; Patrick Huck; Ruo Xi Yang; Jason M. Munro; Shyam Dwaraknath; Alex M. Ganose; Ryan S. Kingsbury; Mingjian Wen; Jimmy X. Shen; Tyler S. Mathis; Aaron D. Kaplan; Karlo Berket; Janosh Riebesell; Janine George; Andrew S. Rosen; Evan W. C. Spotte-Smith; Matthew J. McDermott; Orion A. Cohen; Alex Dunn; Matthew C. Kuner; Gian-Marco Rignanese; Guido Petretto; David Waroquiers; Sinead M. Griffin; Jeffrey B. Neaton; Daryl C. Chrzan; Mark Asta; Geoffroy Hautier; Shreyas Cholia; Gerbrand Ceder; Shyue Ping Ong; Anubhav Jain; Kristin A. Persson
errShare
errSave
The ab initio non-crystalline structure database: empowering machine learning to decode diffusivity
err2024-12-19
err0
errOAAI
errZheng, Hui; Sivonxay, Eric; Christensen, Rasmus; Gallant, Max; Luo, Ziyao; Mcdermott, Matthew; Huck, Patrick; Smedskjaer, Morten M.; Persson, Kristin A.
errShare
errSave
An equivariant graph neural network for the elasticity tensors of all seven crystal systems
err2024-01-01
err6
errOAAI
errWen, Mingjian; Horton, Matthew K.; Munro, Jason M.; Huck, Patrick; Persson, Kristin A.
errShare
errSave
A database of molecular properties integrated in the Materials Project
err2023-01-01
err7
errOAAI
errSpotte-Smith, Evan Walter Clark; Cohen, Orion Archer; Blau, Samuel M.; Munro, Jason M.; Yang, Ruoxi; Guha, Rishabh D.; Patel, Hetal D.; Vijay, Sudarshan; Huck, Patrick; Kingsbury, Ryan; Horton, Matthew K.; Persson, Kristin A.
errShare
errSave
Active learning for accelerated design of layered materials (vol 4, 74, 2018)
err2022-10-11
err1
errOAAI
errOftelie, Lindsay Bassman; Rajak, Pankaj; Kalia, Rajiv K.; Nakano, Aiichiro; Sha, Fei; Sun, Jifeng; Singh, David J.; Aykol, Muratahan; Huck, Patrick; Persson, Kristin; Vashishta, Priya
errShare
errSave
High-throughput predictions of metal-organic framework electronic properties: theoretical challenges, graph neural networks, and data exploration
err2022-05-17
err82
errOAAI
errRosen, Andrew S.; Fung, Victor; Huck, Patrick; O'Donnell, Cody T.; Horton, Matthew K.; Truhlar, Donald G.; Persson, Kristin A.; Notestein, Justin M.; Snurr, Randall Q.
errShare
errSave
Enabling materials informatics for 29Si solid-state NMR of crystalline materials
err2020-05-12
err15
errOAAI
errSun, He; Dwaraknath, Shyam; Ling, Handong; Qu, Xiaohui; Huck, Patrick; Persson, Kristin A.; Hayes, Sophia E.
errShare
errSave
High-throughput Computational Study of Halide Double Perovskite Inorganic Compounds
err2019-07-12
err116
errOAAI
errCai, Yao; Xie, Wei; Teng, Yin Ting; Harikesh, P. C.; Ghosh, Biplab; Huck, Patrick; Persson, Kristin A.; Mathews, Nripan; Mhaisalkar, Subodh G.; Sherburne, Matthew; Asta, Mark
errShare
errSave
Materials design of perovskite solid solutions for thermochemical applications
err2019-01-01
err154
PREAI
errVieten, Josua; Bulfin, Brendan; Huck, Patrick; Horton, Matthew; Guban, Dorottya; Zhu, Liya; Lu, Youjun; Persson, Kristin A.; Roeb, Martin; Sattler, Christian
errShare
errSave
Active learning for accelerated design of layered materials
err2018-12-10
err144
errOAAI
errBassman, Lindsay; Rajak, Pankaj; Kalia, Rajiv K.; Nakano, Aiichiro; Sha, Fei; Sun, Jifeng; Singh, David J.; Aykol, Muratahan; Huck, Patrick; Persson, Kristin; Vashishta, Priya
errShare
errSave
System-size dependence of transverse momentum correlations at √sNN=62.4 and 200 GeV at the BNL Relativistic Heavy Ion Collider
err2013-06-17
err11
errOAAI
errAdamczyk, L.; Adkins, J. K.; Agakishiev, G.; Aggarwal, M. M.; Ahammed, Z.; Alekseev, I.; Alford, J.; Anson, C. D.; Aparin, A.; Arkhipkin, D.; Aschenauer, E.; Averichev, G. S.; Balewski, J.; Banerjee, A.; Barnovska, Z.; Beavis, D. R.; Bellwied, R.; Betancourt, M. J.; Betts, R. R.; Bhasin, A.; Bhati, A. K.; Bhattarai; Bichsel, H.; Bielcik, J.; Bielcikova, J.; Bland, L. C.; Bordyuzhin, I. G.; Borowski, W.; Bouchet, J.; Brandin, A. V.; Brovko, S. G.; Bruna, E.; Bueltmann, S.; Bunzarov, I.; Burton, T. P.; Butterworth, J.; Cai, X. Z.; Caines, H.; Sanchez, M. Calderon de la Barca; Cebra, D.; Cendejas, R.; Cervantes, M. C.; Chaloupka, P.; Chang, Z.; Chattopadhyay, S.; Chen, H. F.; Chen, J. H.; Chen, J. Y.; Chen, L.; Cheng, J.; Cherney, M.; Chikanian, A.; Christie, W.; Chung, P.; Chwastowski, J.; Codrington, M. J. M.; Corliss, R.; Cramer, J. G.; Crawford, H. J.; Cui, X.; Das, S.; Leyva, A. Davila; De Silva, L. C.; Debbe, R. R.; Dedovich, T. G.; Deng, J.; Derradi de Souza, R.; Dhamija, S.; di Ruzza, B.; Didenko, L.; Ding, F.; Dion, A.; Djawotho, P.; Dong, X.; Drachenberg, J. L.; Draper, J. E.; Du, C. M.; Dunkelberger, L. E.; Dunlop, J. C.; Efimov, L. G.; Elnimr, M.; Engelage, J.; Eppley, G.; Eun, L.; Evdokimov, O.; Fatemi, R.; Fazio, S.; Fedorisin, J.; Fersch, R. G.; Filip, P.; Finch, E.; Fisyak, Y.; Flores, E.; Gagliardi, C. A.; Gangadharan, D. R.; Garand, D.; Geurts, F.; Gibson, A.; Gliske, S.; Grebenyuk, O. G.; Grosnick, D.; Gupta, A.; Gupta, S.; Guryn, W.; Haag, B.; Hajkova, O.; Hamed, A.; Han, L-X.; Harris, J. W.; Hays-Wehle, J. P.; Heppelmann, S.; Hirsch, A.; Hoffmann, G. W.; Hofman, D. J.; Horvat, S.; Huang, B.; Huang, H. Z.; Huck, P.; Humanic, T. J.; Igo, G.; Jacobs, W. W.; Jena, C.; Judd, E. G.; Kabana, S.; Kang, K.; Kapitan, J.; Kauder, K.; Ke, H. W.; Keane, D.; Kechechyan, A.; Kesich, A.; Kikola, D. P.; Kiryluk, J.; Kisel, I.; Kisiel, A.; Klein, S. R.; Koetke, D. D.; Kollegger, T.; Konzer, J.; Koralt, I.; Korsch, W.; Kotchenda, L.; Kravtsov, P.; Krueger, K.; Kulakov, I.; Kumar, L.; Lamont, M. A. C.; Landgraf, J. M.; Landry, K. D.; LaPointe, S.; Lauret, J.; Lebedev, A.; Lednicky, R.; Lee, J. H.; Leight, W.; LeVine, M. J.; Li, C.; Li, W.; Li, X.; Li, X.; Li, Y.; Li, Z. M.; Lima, L. M.; Lisa, M. A.; Liu, F.; Ljubicic, T.; Llope, W. J.; Longacre, R. S.; Lu, Y.; Luo, X.; Luszczak, A.; Ma, G. L.; Ma, Y. G.; Don, D. M. M. D. Madagodagettige; Mahapatra, D. P.; Majka, R.; Margetis, S.; Markert, C.; Masui, H.; Matis, H. S.; McDonald, D.; McShane, T. S.; Mioduszewski, S.; Mitrovski, M. K.; Mohammed, Y.; Mohanty, B.; Mondal, M. M.; Munhoz, M. G.; Mustafa, M. K.; Naglis, M.; Nandi, B. K.; Nasim, Md.; Nayak, T. K.; Nelson, J. M.; Nogach, L. V.; Novak, J.; Odyniec, G.; Ogawa, A.; Oh, K.; Ohlson, A.; Okorokov, V.; Oldag, E. W.; Oliveira, R. A. N.; Olson, D.; Pachr, M.; Page, B. S.; Pal, S. K.; Pan, Y. X.; Pandit, Y.; Panebratsev, Y.; Pawlak, T.; Pawlik, B.; Pei, H.; Perkins, C.; Peryt, W.; Pile, P.; Planinic, M.; Pluta, J.; Poljak, N.; Porter, J.; Poskanzer, A. M.; Powell, C. B.; Pruneau, C.; Pruthi, N. K.; Przybycien, M.; Pujahari, P. R.; Putschke, J.; Qiu, H.; Ramachandran, S.; Raniwala, R.; Raniwala, S.; Ray, R. L.; Redwine, R.; Riley, C. K.; Ritter, H. G.; Roberts, J. B.; Rogachevskiy, O. V.; Romero, J. L.; Ross, J. F.; Ruan, L.; Rusnak, J.; Sahoo, N. R.; Sahu, P. K.; Sakrejda, I.; Salur, S.; Sandacz, A.; Sandweiss, J.; Sangaline, E.; Sarkar, A.; Schambach, J.; Scharenberg, R. P.; Schmah, A. M.; Schmidke, B.; Schmitz, N.; Schuster, T. R.; Seele, J.; Seger, J.; Seyboth, P.; Shah, N.; Shahaliev, E.; Shao, M.; Sharma, B.; Sharma, M.; Shi, S. S.; Shou, Q. Y.; Sichtermann, E. P.; Singaraju, R. N.; Skoby, M. J.; Smirnov, D.; Smirnov, N.; Solanki, D.; Sorensen, P.; deSouza, U. G.; Spinka, H. M.; Srivastava, B.; Stanislaus, T. D. S.; Steadman, S. G.; Stevens, J. R.; Stock, R.; Strikhanov, M.; Stringfellow, B.; Suaide, A. A. P.; Suarez, M. C.; Sumbera, M.; Sun, X. M.; Sun, Y.; Sun, Z.; Surrow, B.; Svirida, D. N.; Symons, T. J. M.; Szanto de Toledo, A.; Takahashi, J.; Tang, A. H.; Tang, Z.; Tarini, L. H.; Tarnowsky, T.; Thomas, J. H.; Tian, J.; Timmins, A. R.; Tlusty, D.; Tokarev, M.; Trentalange, S.; Tribble, R. E.; Tribedy, P.; Trzeciak, B. A.; Tsai, O. D.; Turnau, J.; Ullrich, T.; Underwood, D. G.; Van Buren, G.; van Nieuwenhuizen, G.; Vanfossen, J. A., Jr.; Varma, R.; Vasconcelos, G. M. S.; Videbaek, F.; Viyogi, Y. P.; Vokal, S.; Voloshin, S. A.; Vossen, A.; Wada, M.; Wang, F.; Wang, G.; Wang, H.; Wang, J. S.; Wang, Q.; Wang, X. L.; Wang, Y.; Webb, G.; Webb, J. C.; Westfall, G. D.; Whitten, C., Jr.; Wieman, H.; Wissink, S. W.; Witt, R.; Wu, Y. F.; Xiao, Z.; Xie, W.; Xin, K.; Xu, H.; Xu, N.; Xu, Q. H.; Xu, W.; Xu, Y.; Xu, Z.; Xue, L.; Yang, Y.; Yang, Y.; Yepes, P.; Yi, L.; Yip, K.; Yoo, I-K.; Zawisza, M.; Zbroszczyk, H.; Zhang, J. B.; Zhang, S.; Zhang, X. P.; Zhang, Y.; Zhang, Z. P.; Zhao, F.; Zhao, J.; Zhong, C.; Zhu, X.; Zhu, Y. H.; Zoulkarneeva, Y.; Zyzak, M.
errShare
errSave
Dielectron production in Ar plus KCl collisions at 1.76A GeV
err2011-07-19
err87
errOAAI
errAgakishiev, G.; Balanda, A.; Belver, D.; Belyaev, A.; Blanco, A.; Boehmer, M.; Boyard, J. L.; Cabanelas, P.; Castro, E.; Chernenko, S.; Christ, T.; Destefanis, M.; Dohrmann, F.; Dybczak, A.; Eberl, T.; Epple, E.; Fabbietti, L.; Fateev, O.; Finocchiaro, P.; Fonte, P.; Friese, J.; Froehlich, I.; Galatyuk, T.; Garzon, J. A.; Gernhaeuser, R.; Gilardi, C.; Golubeva, M.; Gonzalez-Diaz, D.; Guber, F.; Gumberidze, M.; Heinz, T.; Hennino, T.; Holzmann, R.; Huck, P.; Iori, I.; Ivashkin, A.; Jurkovic, M.; Kaempfer, B.; Kanaki, K.; Karavicheva, T.; Koenig, I.; Koenig, W.; Kolb, B. W.; Kotte, R.; Krasa, A.; Krizek, F.; Kruecken, R.; Kuc, H.; Kuehn, W.; Kugler, A.; Kurepin, A.; Lang, S.; Lange, J. S.; Lapidus, K.; Liu, T.; Lopes, L.; Lorenz, M.; Maier, L.; Mangiarotti, A.; Markert, J.; Metag, V.; Michalska, B.; Michel, J.; Moriniere, E.; Mousa, J.; Muentz, C.; Naumann, L.; Otwinowski, J.; Pachmayer, Y. C.; Palka, M.; Pechenov, V.; Pechenova, O.; Pietraszko, J.; Przygoda, W.; Ramstein, B.; Reshetin, A.; Rustamov, A.; Sadovsky, A.; Sailer, B.; Salabura, P.; Schmah, A.; Schwab, E.; Siebenson, J.; Sobolev, Yu. G.; Spataro, S.; Spruck, B.; Stroebele, H.; Stroth, J.; Sturm, C.; Tarantola, A.; Teilab, K.; Tlusty, P.; Traxler, M.; Trebacz, R.; Tsertos, H.; Wagner, V.; Weber, M.; Wendisch, C.; Wisniowski, M.; Wuestenfeld, J.; Yurevich, S.; Zanevsky, Y.
errShare
errSave