L. Frassinetti; D. King; S. Saarelma; B. Labit; S. Blackmore; D. Keeling; C. Perez von Thun; C. Giroud; S. Wiesen; A. Kappatou; N. Vianello; E. Alessi; M. Brix; I.S. Carvalho; P. Carvalho; A. Chomiczewska; J.S. Elmore; M. Fontdecaba; E. Giovannozzi; J. Harrison; S. Hendersson; D. Kos; E. Kowalska; K. Imada; M. Lennholm; M. Maslov; A. Meigs; S. Menmuir; A. Merle; R.B. Morales; H. Nyström; E. Pawelec; G. Pucella; R. Scannell; D. Silvagni; A. Stagni; P. Ryan; H.J. Sun; JET Contributors; the EUROfusion Tokamak Exploitation Team; the MAST Upgrade Team; the TCV Team
Fenstermacher, M. E.; Baylor, L. R.; de la Luna, E.; Dunne, M. G.; Huijsmans, G. T. A.; Kirk, A.; Laggner, F. M.; Osborne, T. H.; Paz-Soldan, C.; Saarelma, S.; Snyder, P. B.; Viezzer, E.; Becoulet, M.; Burrell, K. H.; Cathey, A.; Chen, X.; Hoelzl, M.; Hughes, J. W.; Maingi, R.; Nelson, A. O.; Urano, H.; Wolfrum, E.; Xu, X. Q.; Diallo, A.; Frassinetti, L.; Futatani, S.; Gil, L.; Groebner, R.; Happel, T.; Kim, S. H.; King, J.; Labit, B.; Lang, P. T.; Liu, Y. Q.; Liu, Z. X.; Lunsford, R.; Park, G. Y.; Sheikh, U.; Suttrop, W.; Vanovac, B.; Wilcox, R. S.; Wingen, A.; Zhang, T.
Tholerus, E.; Casson, F. J.; Marsden, S. P.; Wilson, T.; Brunetti, D.; Fox, P.; Freethy, S. J.; Hender, T. C.; Henderson, S. S.; Hudoba, A.; Kirov, K. K.; Koechl, F.; Meyer, H.; Muldrew, S. I.; Olde, C.; Patel, B. S.; Roach, C. M.; Saarelma, S.; Xia, G.
Garcia, J.; Casson, F. J.; Frassinetti, L.; Gallart, D.; Garzotti, L.; Kim, H. -t.; Nocente, M.; Saarelma, S.; Auriemma, F.; Ferreira, J.; Gabriellini, S.; Ho, A.; Huynh, P.; Kirov, K. K.; Lerche, E.; Mantsinen, M. J.; Zotta, V. K.; Stancar, Z.; Taylor, D. M. A.; Van Eester, D.; Challis, C. D.
Frassinetti, L.; Von Thun, C. Perez; Chapman-Oplopoiou, B.; Nystrom, H.; Poradzinski, M.; Hillesheim, J. C.; Horvath, L.; Maggi, C. F.; Saarelma, S.; Stagni, A.; Szepesi, G.; Bleasdale, A.; Chomiczewska, A.; Morales, R. B.; Brix, M.; Carvalho, P.; Dunai, D.; Field, A. R.; Fontdecaba, J. M.; Sun, H. J.; King, D. B.; Kos, D.; Kowalska, E.; Labit, B.; Lennholm, M.; Menmuir, S.; Rachlew, E.; Refy, D. I.; Schneider, P. A.; Solano, E. R.; Vianello, N.; Vecsei, M.