Bijsterbosch, J.; Haugen, I. K.; Malines, C.; Maheu, E.; Rosendaal, F. R.; Watt, I.; Berenbaum, F.; Kvien, T. K.; van der Heijde, D. M.; Huizinga, T. W. J.; Kloppenburg, M.
Guler-Yuksel, M.; Allaart, C. F.; Watt, I.; Goekoop-Ruiterman, Y. P. M.; de Vries-Bouwstra, J. K.; van Schaardenburg, D.; van Krugten, M. V.; Dijkmans, B. A. C.; Huizinga, T. W. J.; Lems, W. F.; Kloppenburg, M.
Zhang, W.; Doherty, M.; Peat, G.; Bierma-Zeinstra, S. M. A.; Arden, N. K.; Bresnihan, B.; Herrero-Beaumont, G.; Kirschner, S.; Leeb, B. F.; Lohmander, L. S.; Mazieres, B.; Pavelka, K.; Punzi, L.; So, A. K.; Tuncer, T.; Watt, I.; Bijlsma, J. W.
Botha-Scheepers, S.; Watt, I.; Slagboom, E.; de Craen, A. J. M.; Meulenbelt, I.; Rosendaal, F. R.; Breedveld, F. C.; Huizinga, T. W. J.; Kloppenburg, M.
Keen, H. I.; Lavie, F.; Wakefield, R. J.; D'Agostino, M-A; Hammer, H. Berner; Hensor, E. M. A.; Pendleton, A.; Kane, D.; Guerini, H.; Schueller-Weidekamm, C.; Kortekaas, M. C.; Birrel, F.; Kloppenburg, M.; Stamm, T.; Watt, I.; Smolen, J. S.; Maheu, E.; Dougados, M.; Conaghan, P. G.