Hsiao, T. -K.; Farina, P. Cova; Oosterhout, S. D.; Jirovec, D.; Zhang, X.; van Diepen, C. J.; Lawrie, W. I. L.; Wang, C. -A.; Sammak, A.; Scappucci, G.; Veldhorst, M.; Demler, E.; Vandersypen, L. M. K.
Volk, C.; Zwerver, A. M. J.; Mukhopadhyay, U.; Eendebak, P. T.; van Diepen, C. J.; Dehollain, J. P.; Hensgens, T.; Fujita, T.; Reichl, C.; Wegscheider, W.; Vandersypen, L. M. K.