Varela, J.; Spong, D. A.; Garcia, L.; Huang, J.; Murakami, M.; Garofalo, A. M.; Qian, J. P.; Holcomb, C. T.; Hyatt, A. W.; Ferron, J. R.; Collins, C. S.; Ren, Q. L.; McClenaghan, J.; Guo, W.
Yoshida, M.; McKee, G. R.; Murakami, M.; Grierson, B. A.; Nakata, M.; Davis, E. M.; Marinoni, A.; Ono, M.; Rhodes, T. L.; Sung, C.; Schmitz, L.; Petty, C. C.; Ferron, J. R.; Turco, F.; Garofalo, A. M.; Holcomb, C. T.; Collins, C. M.; Solomon, W. M.
Petty, C. C.; Kinsey, J. E.; Holcomb, C. T.; DeBoo, J. C.; Doyle, E. J.; Ferron, J. R.; Garofalo, A. M.; Hyatt, A. W.; Jackson, G. L.; Luce, T. C.; Murakami, M.; Politzer, P. A.; Reimerdes, H.
Polevoi, A. R.; Loarte, A.; Hayashi, N.; Kim, H. S.; Kim, S. H.; Koechl, F.; Kukushkin, A. S.; Leonov, V. M.; Medvedev, S. Yu.; Murakami, M.; Na, Y. S.; Pankin, A. Y.; Park, J. M.; Snyder, P. B.; Snipes, J. A.; Zhogolev, V. E.
Luce, T. C.; Challis, C. D.; Ide, S.; Joffrin, E.; Kamada, Y.; Politzer, P. A.; Schweinzer, J.; Sips, A. C. C.; Stober, J.; Giruzzi, G.; Kessel, C. E.; Murakami, M.; Na, Y. -S.; Park, J. M.; Polevoi, A. R.; Budny, R. V.; Citrin, J.; Garcia, J.; Hayashi, N.; Hobirk, J.; Hudson, B. F.; Imbeaux, F.; Isayama, A.; McDonald, D. C.; Nakano, T.; Oyama, N.; Parail, V. V.; Petrie, T. W.; Petty, C. C.; Suzuki, T.; Wade, M. R.
Van Zeeland, M. A.; Gorelenkov, N. N.; Heidbrink, W. W.; Kramer, G. J.; Spong, D. A.; Austin, M. E.; Fisher, R. K.; Garcia-Munoz, M.; Gorelenkova, M.; Luhmann, N.; Murakami, M.; Nazikian, R.; Pace, D. C.; Park, J. M.; Tobias, B. J.; White, R. B.
Ferron, J. R.; Holcomb, C. T.; Luce, T. C.; Politzer, P. A.; Turco, F.; DeBoo, J. C.; Doyle, E. J.; In, Y.; La Haye, R. J.; Murakami, M.; Okabayashi, M.; Park, J. M.; Petrie, T. W.; Petty, C. C.; Reimerdes, H.
Murakami, M.; Park, J. M.; Giruzzi, G.; Garcia, J.; Bonoli, P.; Budny, R. V.; Doyle, E. J.; Fukuyama, A.; Hayashi, N.; Honda, M.; Hubbard, A.; Ide, S.; Imbeaux, F.; Jaeger, E. F.; Luce, T. C.; Na, Y. -S.; Oikawa, T.; Osborne, T. H.; Parail, V.; Polevoi, A.; Prater, R.; Sips, A. C. C.; Snipes, J.; St John, H. E.; Snyder, P. B.; Voitsekhovitch, I.
Leuer, J. A.; Cunningham, G.; Mueller, D.; Brooks, N. H.; Eidietis, N. W.; Humphreys, D. A.; Hyatt, A. W.; Jackson, G. L.; Lohr, J.; Politzer, P. A.; Pinsker, R. I.; Prater, R.; Taylor, P. L.; Walker, M. L.; Budny, R. V.; Gates, D. A.; Nagy, A.; Hahn, S-H.; Oh, Y-K.; Yoon, S-W.; Yu, J. H.; Murakami, M.; Park, J. M.; Sontag, A. C.
Pace, D. C.; Fisher, R. K.; Garcia-Munoz, M.; Heidbrink, W. W.; McKee, G. R.; Murakami, M.; Muscatello, C. M.; Nazikian, R.; Park, J. M.; Petty, C. C.; Rhodes, T. L.; Staebler, G. M.; Van Zeeland, M. A.; Waltz, R. E.; White, R. B.; Yu, J. H.; Zhang, W.; Zhu, Y. B.
Murakami, M.; Park, J. M.; Petty, C. C.; Luce, T. C.; Heidbrink, W. W.; Osborne, T. H.; Prater, R.; Wade, M. R.; Anderson, P. M.; Austin, M. E.; Brooks, N. H.; Budny, R. V.; Challis, C. D.; DeBoo, J. C.; deGrassie, J. S.; Ferron, J. R.; Gohil, P.; Hobirk, J.; Holcomb, C. T.; Hollmann, E. M.; Hong, R. M.; Hyatt, A. W.; Lohr, J.; Lanctot, M. J.; Makowski, M. A.; McCune, D. C.; Politzer, P. A.; Scoville, J. T.; St John, H. E.; Suzuki, T.; Taylor, T. S.; West, W. P.; Unterberg, E. A.; Van Zeeland, M. A.; Yu, J. H.
Voitsekhovitch, I.; Alper, B.; Brix, M.; Budny, R. V.; Buratti, P.; Challis, C. D.; Ferron, J.; Giroud, C.; Joffrin, E.; Laborde, L.; Luce, T. C.; McCune, D.; Menard, J.; Murakami, M.; Park, J. M.
Roach, C. M.; Walters, M.; Budny, R. V.; Imbeaux, F.; Fredian, T. W.; Greenwald, M.; Stillerman, J. A.; Alexander, D. A.; Carlsson, J.; Cary, J. R.; Ryter, F.; Stober, J.; Gohil, P.; Greenfield, C.; Murakami, M.; Bracco, G.; Esposito, B.; Romanelli, M.; Parail, V.; Stubberfield, P.; Voitsekhovitch, I.; Brickley, C.; Field, A. R.; Sakamoto, Y.; Fujita, T.; Fukuda, T.; Hayashi, N.; Hogeweij, G. M. D.; Chudnovskiy, A.; Kinerva, N. A.; Kessel, C. E.; Aniel, T.; Hoang, G. T.; Ongena, J.; Doyle, E. J.; Houlberg, W. A.; Polevoi, A. R.
Kessel, C. E.; Giruzzil, G.; Sips, A. C. C.; Budny, R. V.; Artaud, J. F.; Basiuk, V.; Imbeaux, F.; Joffrin, E.; Schneider, M.; Murakami, M.; Luce, T.; St John, Holger; Oikawa, T.; Hayashi, N.; Takizuka, T.; Ozeki, T.; Na, Y.-S.; Park, J. M.; Garcia, J.; Tucillo, A. A.