Schafer, J. S.; Eck, T. F.; Holben, B. N.; Thornhill, K. L.; Anderson, B. E.; Sinyuk, A.; Giles, D. M.; Winstead, E. L.; Ziemba, L. D.; Beyersdorf, A. J.; Kenny, P. R.; Smirnov, A.; Slutsker, I.
Eck, T. F.; Holben, B. N.; Reid, J. S.; Mukelabai, M. M.; Piketh, S. J.; Torres, O.; Jethva, H. T.; Hyer, E. J.; Ward, D. E.; Dubovik, O.; Sinyuk, A.; Schafer, J. S.; Giles, D. M.; Sorokin, M.; Smirnov, A.; Slutsker, I.
Garcia, O. E.; Diaz, A. M.; Exposito, F. J.; Diaz, J. P.; Dubovik, O.; Dubuisson, P.; Roger, J-C; Eck, T. F.; Sinyuk, A.; Derimian, Y.; Dutton, E. G.; Schafer, J. S.; Holben, B. N.; Garcia, C. A.
Eck, T. F.; Holben, B. N.; Reid, J. S.; Sinyuk, A.; Dubovik, O.; Smirnov, A.; Giles, D.; O'Neill, N. T.; Tsay, S. -C.; Ji, Q.; Al Mandoos, A.; Khan, M. Ramzan; Reid, E. A.; Schafer, J. S.; Sorokine, M.; Newcomb, W.; Slutsker, I.