Vassholz, M.; Hoeppe, H. P.; Hagemann, J.; Rossello, J. M.; Osterhoff, M.; Mettin, R.; Kurz, T.; Schropp, A.; Seiboth, F.; Schroer, C. G.; Scholz, M.; Moeller, J.; Hallmann, J.; Boesenberg, U.; Kim, C.; Zozulya, A.; Lu, W.; Shayduk, R.; Schaffer, R.; Madsen, A.; Salditt, T.