Hayek, Matthew N.; Wehr, Richard; Longo, Marcos; Hutyra, Lucy R.; Wiedemann, Kenia; Munger, J. William; Bonal, Damien; Saleska, Scott R.; Fitzjarrald, David R.; Wofsy, Steven C.
Wang, Zhuosen; Schaaf, Crystal B.; Strahler, Alan H.; Chopping, Mark J.; Roman, Miguel O.; Shuai, Yanmin; Woodcock, Curtis E.; Hollinger, David Y.; Fitzjarrald, David R.
Restrepo-Coupe, Natalia; da Rocha, Humberto R.; Hutyra, Lucy R.; da Araujo, Alessandro C.; Borma, Laura S.; Christoffersen, Bradley; Cabral, Osvaldo M. R.; de Camargo, Plinio B.; Cardoso, Fernando L.; Lola da Costa, Antonio C.; Fitzjarrald, David R.; Goulden, Michael L.; Kruijt, Bart; Maia, Jair M. F.; Malhi, Yadvinder S.; Manzi, Antonio O.; Miller, Scott D.; Nobre, Antonio D.; von Randow, Celso; Abreu Sa, Leonardo D.; Sakai, Ricardo K.; Tota, Julio; Wofsy, Steven C.; Zanchi, Fabricio B.; Saleska, Scott R.
Tota, Julio; Fitzjarrald, David R.; Staebler, Ralf M.; Sakai, Ricardo K.; Moraes, Osvaldo M. M.; Acevedo, Otavio C.; Wofsy, Steven C.; Manzi, Antonio O.