Christine C. Au-Yeung; Xinglong Chen; S. Smit; M. Bluschke; V. Zimmermann; M. Michiardi; P. C. Moen; J. Kraan; C. S. B. Pang; C. T. Suen; S. Zhdanovich; M. Zonno; S. Gorovikov; Yuzi Liu; P. Dosanjh; G. Levy; I. S. Elfimov; M. Berciu; G. A. Sawatzky; J. F. Mitchell; A. Damascelli
E. H. T. Poldi; R. Tartaglia; G. Fabbris; N. Nguyen; H. Park; Z. Liu; M. van Veenendaal; R. Kumar; G. Jose; S. Samanta; W. Bi; Y. Xiao; D. Popov; Y. Wu; J.-W. Kim; H. Zheng; J. Yan; J. F. Mitchell; R. J. Hemley; D. Haskel
Griffiths, Jack; Suzana, Ana F.; Wu, Longlong; Marks, Samuel D.; Esposito, Vincent; Boutet, Sebastien; Evans, Paul G.; Mitchell, J. F.; Dean, Mark P. M.; Keen, David A.; Robinson, Ian; Billinge, Simon J. L.; Bozin, Emil S.
Griffiths, Jack; Suzana, Ana F.; Wu, Longlong; Marks, Samuel D.; Esposito, Vincent; Boutet, Sebastien; Evans, Paul G.; Mitchell, J. F.; Dean, Mark P. M.; Keen, David A.; Robinson, Ian; Billinge, Simon J. L.; Bozin, Emil S.
Samarakoon, Anjana M.; Strempfer, J.; Zhang, Junjie; Ye, Feng; Qiu, Yiming; Kim, J. -w.; Zheng, H.; Rosenkranz, S.; Norman, M. R.; Mitchell, J. F.; Phelan, D.
van Veenendaal, M.; Poldi, E. H. T.; Veiga, L. S. I.; Bencok, P.; Fabbris, G.; Tartaglia, R.; Mcchesney, J. L.; Freeland, J. W.; Hemley, R. J.; Zheng, H.; Mitchell, J. F.; Yan, J. -q.; Haskel, D.
Shen, Y.; Sears, J.; Fabbris, G.; Li, J.; Pelliciari, J.; Mitrano, M.; He, W.; Zhang, Junji; Mitchell, J. F.; Bisogni, V.; Norman, M. R.; Johnston, S.; Dean, M. P. M.