Zhu, W. W.; Berndsen, A.; Madsen, E. C.; Tan, M.; Stairs, I. H.; Brazier, A.; Lazarus, P.; Lynch, R.; Scholz, P.; Stovall, K.; Ransom, S. M.; Banaszak, S.; Biwer, C. M.; Cohen, S.; Dartez, L. P.; Flanigan, J.; Lunsford, G.; Martinez, J. G.; Mata, A.; Rohr, M.; Walker, A.; Allen, B.; Bhat, N. D. R.; Bogdanov, S.; Camilo, F.; Chatterjee, S.; Cordes, J. M.; Crawford, F.; Deneva, J. S.; Desvignes, G.; Ferdman, R. D.; Freire, P. C. C.; Hessels, J. W. T.; Jenet, F. A.; Kaplan, D. L.; Kaspi, V. M.; Knispel, B.; Lee, K. J.; van Leeuwen, J.; Lyne, A. G.; McLaughlin, M. A.; Siemens, X.; Spitler, L. G.; Venkataraman, A.
Boyles, J.; Lynch, R. S.; Ransom, S. M.; Stairs, I. H.; Lorimer, D. R.; McLaughlin, M. A.; Hessels, J. W. T.; Kaspi, V. M.; Kondratiev, V. I.; Archibald, A.; Berndsen, A.; Cardoso, R. F.; Cherry, A.; Epstein, C. R.; Karako-Argaman, C.; McPhee, C. A.; Pennucci, T.; Roberts, M. S. E.; Stovall, K.; van Leeuwen, J.