Apra, E.; Bylaska, E. J.; de Jong, W. A.; Govind, N.; Kowalski, K.; Straatsma, T. P.; Valiev, M.; van Dam, H. J. J.; Alexeev, Y.; Anchell, J.; Anisimov, V; Aquino, F. W.; Atta-Fynn, R.; Autschbach, J.; Bauman, N. P.; Becca, J. C.; Bernholdt, D. E.; Bhaskaran-Nair, K.; Bogatko, S.; Borowski, P.; Boschen, J.; Brabec, J.; Bruner, A.; Cauet, E.; Chen, Y.; Chuev, G. N.; Cramer, C. J.; Daily, J.; Deegan, M. J. O.; Dunning, T. H., Jr.; Dupuis, M.; Dyall, K. G.; Fann, G., I; Fischer, S. A.; Fonari, A.; Fruechtl, H.; Gagliardi, L.; Garza, J.; Gawande, N.; Ghosh, S.; Glaesemann, K.; Goetz, A. W.; Hammond, J.; Helms, V; Hermes, E. D.; Hirao, K.; Hirata, S.; Jacquelin, M.; Jensen, L.; Johnson, B. G.; Jonsson, H.; Kendall, R. A.; Klemm, M.; Kobayashi, R.; Konkov, V; Krishnamoorthy, S.; Krishnan, M.; Lin, Z.; Lins, R. D.; Littlefield, R. J.; Logsdail, A. J.; Lopata, K.; Ma, W.; Marenich, A., V; del Campo, J. Martin; Mejia-Rodriguez, D.; Moore, J. E.; Mullin, J. M.; Nakajima, T.; Nascimento, D. R.; Nichols, J. A.; Nichols, P. J.; Nieplocha, J.; Otero-de-la-Roza, A.; Palmer, B.; Panyala, A.; Pirojsirikul, T.; Peng, B.; Peverati, R.; Pittner, J.; Pollack, L.; Richard, R. M.; Sadayappan, P.; Schatz, G. C.; Shelton, W. A.; Silverstein, D. W.; Smith, D. M. A.; Soares, T. A.; Song, D.; Swart, M.; Taylor, H. L.; Thomas, G. S.; Tipparaju, V; Truhlar, D. G.; Tsemekhman, K.; Van Voorhis, T.; Vazquez-Mayagoitia, A.; Verma, P.; Villa, O.; Vishnu, A.; Vogiatzis, K. D.; Wang, D.; Weare, J. H.; Williamson, M. J.; Windus, T. L.; Wolinski, K.; Wong, A. T.; Wu, Q.; Yang, C.; Yu, Q.; Zacharias, M.; Zhang, Z.; Zhao, Y.; Harrison, R. J.
Parrish, Robert M.; Burns, Lori A.; Smith, Daniel G. A.; Simmonett, Andrew C.; DePrince, A. Eugene, III; Hohenstein, Edward G.; Bozkaya, Ugur; Sokolov, Alexander Yu.; Di Remigio, Roberto; Richard, Ryan M.; Gonthier, Jerome F.; James, Andrew M.; McAlexander, Harley R.; Kumar, Ashutosh; Saitow, Masaaki; Wang, Xiao; Pritchard, Benjamin P.; Prakash, Verma; Schaefer, Henry F., III; Patkowski, Konrad; King, Rollin A.; Valeev, Edward F.; Evangelista, Francesco A.; Turney, Justin M.; Crawford, T. Daniel; Sherrill, C. David
.png){kind=icon}
.png){kind=icon}
.png){kind=icon}
.png){kind=icon}
.png){kind=icon}
Share.png){kind=icon}
Save
Not logged in.png){kind=icon}