Michael J. Stein; Claas Lendt; Fabian Bamberg; Janett Barbaresko; Hansjörg Baurecht; Klaus Berger; Patricia Bohmann; Julian Brummer; Christoph Buck; Beate Fischer; Heinz Freisling; Daniela Georges; Karin Halina Greiser; Jana-Kristin Heise; Florian Herbolsheimer; Marie-Theres Huemer; André Karch; Thomas Keil; Lilian Krist; Wolfgang Lieb; Claudia Meinke-Franze; Rafael Mikolajczyk; Katharina Nimptsch; Nadia Obi; Cara Övermöhle; Tobias Pischon; Steffen Ringhof; Börge Schmidt; Markus Scholz; Peggy Sekula; Karen Steindorf; Paula Stürmer; Henry Völzke; Ronny Westerman; Kerstin Wirkner; Johanna Wirler; Annette Peters; Michael F. Leitzmann
Hannah Briesch; Mariana Coelho; Alessia Floerchinger; Yuliia Borysovych; Nicolas Aubert; Daniel Medina-Gil; Manina Breitinger; Marc Zapatka; Stella E. Autenrieth; Martina Seiffert
Johannes A. Grimm; Oliver Kraff; Markus W. May; Max Lutz; Stephan Orzada; Thomas M. Fiedler; Steen Moeller; Simon Schmidt; Harald H. Quick; Armin M. Nagel; Mark E. Ladd; Sebastian Schmitter
Tobias Sangers; Ahmad Naweed Shifai; Davide Giovanni Jacob Pasqualini; Catarina Barata; Ralph Braun; Titus Josef Brinker; Alessandra Cartocci; Ben Esdaile; Simone Goldinger; Pascale Guitera; Holger Haenssle; Harald Kittler; Jilliana Monnier; Cristián Navarrete-Dechent; Sebastian Podlipnik; Laura Serra-García; Wilhelm Stolz; Kenneth Thomsen; Philipp Tschandl; Linda Tognetti; Elsemieke Plasmeijer; Remco van Doorn; Josep Malvehy; the EADV AI Task Force
Nives Cecere; Kristina Alikhanyan; Claudia Ernst; Lisa Häfele; Lars Feuerbach; Imke Grewe; Sumen Siqin; Karin Gunst; Gunjan Shukla; Veronika Frehtman; Claudia Tessmer; Florian Eichhorn; Michael Allgäuer; Alexander Brobeil; Ilse Hofmann; Barbara Leuchs; Marc A. Schneider; Timo Bund
Sabina Niyazova; Christine Sers; Hendrik Bläker; David Horst; Wolfgang Schmitt; Zehra Karadeniz; Simon Schallenberg; Alexej Ballhausen; Dominik P. Modest; Colin M. Krüger; Eric P. M. Lorenz; Michael Hünerbein; Arndt von Kirchbach; Armin Jarosch
Jacobs, J. J.; van Weerd, E.; Moerman, A. M.; Klaver, Y. L. B.; Xavier, C.; Hoyer, M.; Troost, E. G. C.; Nguyen, V.; Jorgensen, L.; Zorneth, M.; Kelly, S.; Thiele, J.; Bizzocchi, N.; Bijwaard, H.; Hoogeman, M. S.
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