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K
Kathrin Plankensteiner
University of Klagenfurt
4
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14
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45
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0
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1
发表时间
发表时间
IF
被引数
Bayesian Network Model with Application to Smart Power Semiconductor Lifetime Data
RISK ANALYSIS
IF
3.3
2015-02-13
4
PRE
AI
Plankensteiner, Kathrin; Bluder, Olivia; Pilz, Juergen
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研究方向
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合作学者
合作期刊
J
Jürgen Pilz
H 指数: 30 · 论文数: 231
O
Olivia Bluder
H 指数: 4 · 论文数: 20
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