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Ruttan, Tom
Intel Corporation
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IF
被引数
Microwave Multiport Measurements for the Digital World
IEEE MICROWAVE MAGAZINE
IF
2.6
2011-02-01
12
PRE
AI
Ferrero, Andrea; Teppati, Valeria; Fledell, Evan; Grossman, Brett; Ruttan, Tom
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合作学者
合作期刊
G
Grossman, Brett
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T
Teppati, Valeria
H 指数: 0 · 论文数: 1
F
Fledell, Evan
H 指数: 0 · 论文数: 1
F
Ferrero, Andrea
H 指数: 0 · 论文数: 3
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