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收藏Silicon nanocavity with a quality factor of 6.7 million fabricated by a CMOS-compatible process通过CMOS兼容工艺制造的质量因子为670万的硅纳米腔
Katsura, Masaaki; Ota, Yuji; Mitsuhashi, Ryota; Ohtsuka, Minoru; Seki, Miyoshi; Yokoyama, Nobuyuki; Asano, Takashi; Noda, Susumu; Okano, Makoto; Takahashi, Yasushi
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