未登录Atomic force microscope nanolithography of graphene: Cuts, pseudocuts, and tip current measurements石墨烯的原子力显微镜纳米光刻: 切割，伪切割和尖端电流测量
Puddy, R. K.; Scard, P. H.; Tyndall, D.; Connolly, M. R.; Smith, C. G.; Jones, G. A. C.; Lombardo, A.; Ferrari, A. C.; Buitelaar, M. R. .png)
分享.png)
收藏
.png){kind=icon}
.png){kind=icon}
.png){kind=icon}
.png){kind=icon}
