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Viani, MB
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发表时间
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IF
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Array detector for the atomic force microscope
APPLIED PHYSICS LETTERS
IF
3.6
2000-06-12
10
PRE
AI
Schäffer, TE; Richter, M; Viani, MB
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合作学者
合作期刊
T
Tilman E. Schäffer
H 指数: 49 · 论文数: 178
M
Michael Richter
H 指数: 20 · 论文数: 135
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