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Xiaopeng Sun
Changzhou University
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1
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IF
被引数
Printed Circuit Boards Defect Detection Method Based on Improved Fully Convolutional Networks
基于改进全卷积网络的印刷电路板缺陷检测方法
IEEE ACCESS
IF
3.6
2022-01-01
21
OA
AI
Zheng, Jianfeng; Sun, Xiaopeng; Zhou, Haixiang; Tian, Chenyang; Qiang, Hao
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合作学者
合作期刊
J
Jianfeng Zheng
H 指数: 22 · 论文数: 124
H
Hao Qiang
H 指数: 18 · 论文数: 110
H
Haixiang Zhou
H 指数: 12 · 论文数: 44
C
Chenyang Tian
H 指数: 4 · 论文数: 20
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