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Lirong Zheng

Chinese Academy of Sciences
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个人简介

X射线吸收谱学线站(ID46)是一条通用、高性能硬X射线吸收谱学光束线站,用于分析物质的局域原子结构和电子结构信息。本光束线站主要用于高能量分辨、高光谱纯度和高信噪比的 X 射线吸收精细结构(XAFS)谱学研究。该技术能够在固态、液态等多种条件下研究原子(或离子)的近邻结构和电子结构,且具有元素选择性,与其它 X 射线分析技术相比有其独特的优势。常规的透射和荧光 XAFS 实验方法,为最广泛的用户群提供可靠、稳定和操作简便的实验平台;QXAFS、HERFD-XAS实验方法,以满足用户日益提高的高时间分辨和空间分辨谱学需求。束线可支持用户在能源、材料、环境、物理等多个研究领域开展前沿的科学研究工作。 DCMMBSSSAKB-SlitNano-HKBSample-1VFMHRM-2WallUndulatorWBSNano-VKBSample -2WBS: white beam slitCCM: white beam slitHRM-1MBS: monochromatic beam slitDCM: monochromatic beam slitSSA: Secondary source apertureVFM: Vertical focusing MirrorVCMCCMVCM: Vertical Collimating MirrorHRMs: Harmonic Rejection Mirrors31.5m 34.58m 37.65m41.26m 43.26m 47.62m 46.20m 50.46m54.96m66.36m66.65m66.96m70m 【主要参数 Specifications】 光通量(非聚焦) 2.1×1013@10keV @200mA 光通量(聚焦) 3.6×1012@10keV @200mA 能量分辨率 1.7×10-4@9keV,Si(111) 3.7×10-5@9keV,Si(311) 时间分辨能力 <20ms (XANES) 痕量元素检测能力 <0.5ppm 【实验模式 Experiment Mode】 具有 3 种主要的运行模式 (a)常规亚微米聚焦模式:该模式主要优化方向是光斑尺寸达到亚微米量级; (b)快扫亚微米聚焦模式:该模式主要优化方向是兼顾时间分辨和亚微米光斑; (c)大光斑模式:该模式为 mm 级光斑的常规 XAFS 模式 【线站设备 Equipment Availability】 探测器Detectors:Lytle电离室、SDD探测器、高纯锗探测器 【数据收集与处理 Data Acquisition】 1. 透射模式XAFS方法 透射模式XAFS通常选用气体电离室作为探测器,用光强响应函数相同的两个电离室分别探测入射光强和透射光强,入射光强的时间波动便很容易消除。 2. 荧光模式XAFS方法 对于低浓度样品(0.1~5wt%),一般采取Lytle型气体电离室进行荧光模式XAFS测量,并结合相应的荧光滤波片抑制散射背底信号。 对于更低浓度的样品(0.1wt%至ppm量级),一般采用高灵敏的固体探测器进行荧光XAFS探测。 含Cu水溶液中Cu浓度<2ppm时的XANES 3. 时间分辨QXAFS方法 线站配备了QXAFS快速测量系统,该系统采用channel-cut型单色器。 单谱时长20ms下快扫谱和标准谱的对比

教育背景

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工作经历

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荣誉奖项

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