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Krishna Kant Agrawal

Galgotias University

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收录论文 1
发表时间
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Dual Refractive Index Profile Detection based on Multimode Interferometer基于多模干涉仪的双折射率剖面检测
errPhotonics and Nanostructures - Fundamentals and Applications
IF0
err2025-11-21
err0
PREAI
errLokendra Singh; Krishna Kant Agrawal; Prakash Pareek; Naveen Kumar Maurya; Vipul Agarwal
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研究方向

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合作学者
合作期刊
P
Prakash Pareek
H 指数: 12 · 论文数: 101
L
Lokendra Singh
H 指数: 0 · 论文数: 1
V
Vipul Agarwal
H 指数: 0 · 论文数: 1
N
Naveen Kumar Maurya
H 指数: 0 · 论文数: 1
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