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Dibyadrasta Sahoo

department of electronics and communication engineering

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收录论文 1
发表时间
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Investigation of EPI Plug Voids Impacts on Electrical Performance of 3D NANDEPI插头空洞对3D NAND电性能影响的研究
errSilicon
IF3.3
err2025-12-09
err0
PREAI
errDibyadrasta Sahoo; Ankit Gaurav; Mohd Ashraf Lone; Sanjeev Kumar Manhas
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研究方向

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合作学者
合作期刊
S
S. K. Manhas
H 指数: 22 · 论文数: 162
A
Ankit Gaurav
H 指数: 2 · 论文数: 10
M
Mohd Ashraf Lone
H 指数: 1 · 论文数: 9
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