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M

Müge Özbek

University of Illinois Chicago

5H指数
8论文数
144被引数
收录论文 1
发表时间
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A Negativity Bias in Detail Generation During Event Simulation
errEMOTION
IF3.6
err2020-12-01
err4
errOAAI
errPuig, Vannia A.; Ozbek, Muge; Szpunar, Karl K.
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研究方向

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合作学者
合作期刊
K
Karl K. Szpunar
H 指数: 37 · 论文数: 105
V
Vannia A. Puig
H 指数: 3 · 论文数: 4
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