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收藏A buckling-based metrology for measuring the elastic moduli of polymeric thin films基于屈曲的计量学,用于测量聚合物薄膜的弹性模量
Stafford, CM; Harrison, C; Beers, KL; Karim, A; Amis, EJ; Vanlandingham, MR; Kim, HC; Volksen, W; Miller, RD; Simonyi, EE
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